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921X光缆在接续过程中产生的大衰耗点
点击次数:901 发布时间:2018-06-15
921X光缆在接续过程中产生的大衰耗点
在921X光缆接续过程中,产生大衰耗点是经常发生的,我们一般用OTDR(光时域反射仪)进行监测,即每熔接一根光纤,都用OTDR测试一下熔接点的衰耗值,具体测试时,采用双向监测法,由于光纤制造过程中存在的差异性,两根光纤不可能完全一致,总是存在模场直径不一致现象,从而导致了用OTDR所测的损耗值并不是接续点的实际损耗值,其数值有正有负,一般用双向测试值的算术平均值作为实际衰耗值。在接续时,一般用实时监测法,基本能保证熔接损耗达到控制目标,但经常产生大损耗点的原因是在熔接完毕后进行光纤收容时,部分光纤受压或弯曲半径过小,即形成一个大衰耗点。因为1550nm波长的光纤对微弯损耗非常敏感,光纤一旦受压,即产生一个微弯点,或盘纤时,弯曲半径过小,光纤信号在此处也产生较大的衰耗,表现在光纤后向散射曲线上,就形成了一个较大的衰耗台阶;另外,一个比较容易忽视的原因是921X光缆接头盒组装完成后,固定接头盒和固定921X光缆时,由于921X光缆在接头盒内固定的不是很牢固,造成921X光缆拧转,使光纤束管变形,由于光纤受压,造成光纤衰耗值急剧增加,形成衰耗台阶。

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